Система бесконтактных 2-х осевых измерений Swift Duo

Экономичная, высокоточная 2-х осевая измерительная комбинированная система видео и оптических измерений, специально разработана для измерения мелких и сложных деталей. Комбинированная технология обеспечивает плавный переход от быстрых видео измерений к прецизионным оптическим.

Swift Duo — это запатентованный эргономичный оптический микроскоп высокого разрешения для изучения поверхности и выполнения измерений, использующий ПО нового поколения с технологией «touch-to-measure».

Применяется для высокоточных оптических и видеоизмерений геометрических размеров прецизионных объектов в промышленности.

Используется как для внутрицехового контроля результатов промежуточных технологических операций, так и службами контроля качества при осуществлении приёмо-сдаточных и типовых испытаний готовых деталей и узлов.

Система бесконтактных измерений по 2-м осям Swift Duo предназначена для быстрого и точного измерения размеров оптически сложных объектов, что позволяет использовать ее при проведении большого объёма простых видео измерений и при выполнении сложных высокоточных единичных оптических измерений критически важных деталей.                                   

Результатом работы на микроскопе является получение в числовой форме действительных результатов измерений геометрических размеров объектов. Полученные результаты можно распечатать либо сохранить в памяти микропроцессора. Принцип работы основан на запатентованной фирмой VisionEngineering технологии оптического проецирования Dynascope™, обеспечивающей получение высоко контрастных изображений сложных объектов и применении измерительных платформ с алгоритмом нелинейной коррекции ошибок. Технология измерения включает в себя установку детали на измерительную платформу, выбор базовой плоскости, наведение перекрестия визира на измеряемые точки и фиксацию показаний микропроцессора. При необходимости выполнения повторяющихся операций можно запрограммировать процедуру измерения, сохранить программу и использовать ее в дальнейшем для серийных измерений.